Bei der Forschung und Entwicklung von neuen halbleitenden Materialien ist ein elektrischer Test zur Bewertung der aktiven Schicht unbedingt notwendig. Hierfür werden Teststrukturen auf Trägermaterialien z.B. Glas aufgebracht. Einfache Widerstandsmessungen unter Lichteinfall bringen eine Aussage über die Qualtät des Materials. Da jeder Hersteller, jeder Entwickler seine eigenen Teststrukturen hat muss ein möglichst flexibles System her. Der Test-"Igel" von Ironwood Electronics wird diesen Anforderungen gerecht. Federnde Pins, die kundenspezifisch platziert werden, kontaktieren ein Array von FETs. Der sogennate Scrubber Pin ermöglicht das Aufkratzen einer evtl. vorhanden Oxidschicht. Besonders wichtig ist, dass die Signale auf Testpins herausgeführt werden, damit sie für die weitere Analyse zur Verfügung stehen. Wird der Adapter auf ein Backlight montiert ist der Einfluß von Licht direkt bestimmbar. Dabei werden Strukturen im Raster 0.40mm oder größer unterstützt. Ein Arbeiten im Temperaturbereich von -55°C bis +180°C ist im spezifizierten Bereich. Die Lebensdauer beträgt über 300.000 Testzyklen.

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Dagmar Oertel
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